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涂層測厚儀   涂層檢測 > 涂層測厚儀 > 涂層測厚儀MiniTest7400
     
 
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  涂層測厚儀MiniTest7400
資料下載-涂層測厚儀MiniTest7400
德國EPK(Elektrophysik)公司全新的MiniTest7400高精度涂層測厚儀

  儀器特點
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高精度涂層測厚儀
所有金屬基材上的非破壞性測量
多種圖形顯示選項
菜單控制界面,更強的數據和配置管理
用于簡易配置評估和數據設置報告的PC軟件
測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭
SIDSP®技術提升精確度和重現性

  主機參數
涂層測厚儀MiniTest7400
   存儲數據量 500組約250000個讀數
  統計值(每批組) 讀數個數,最大值,最小值,平均值,標準偏差,變異系數,組統計值(標準設置/自由配置),過程能力指數CP和CPK,直方圖,趨勢圖
  校準程序符合國際標準和規范 ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準
  校準模式 最多5點校準,使用者可調節補償值
  極限值監控 聲音、視覺報警提示超過極限值
   測量單位 μm,mm,cm,mils,inch,thou
  操作/存放溫度 -10℃~60℃/-20℃~70℃
  數據接口 IrDA®1.0紅外接口,可選USB和RS232適配器
  顯示 160x160像素LCD帶背光
  尺寸重量 153mmx89mm32mm,310g(包括電池)
  規范和標準 DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882, 19840, AS3894; SS 1841 60,SSPC-PA 2,
IMO-PSPC, ASTM B 244, B 499, D 7091, E376
     
  技術參數
標準探頭 HD探頭 量程 低端
分辨率
誤差 重復性
(標準偏差)
最小曲率
半徑
(凸/凹)
最小測量
區域直徑(無測量標準)
最小測量
區域直徑(有測量標準)
最小基
體厚度
F05 F05HD 0~0.5mm 0.02μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 0.3mm
F1.5 F1.5HD 0~1.5mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 0.3mm
F1.5-90   0~1.5mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 平面/5mm 10mm 5mm 0.3mm
  F2HD 0~2mm 0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm - 0.5mm
F5 F5HD 0~5mm 0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm 10mm 0.5mm
F15   0-15mm 1μm ±(5μm±0.75%) ±(2.5μm±0.5%) 5/25mm 25mm 25mm 1.0mm
F35   0-35mm 5μm ±(20μm±0.75%) ±(10μm±0.5%) 50/50mm 100mm - 1.5mm
N0.2 N0.2HD 0~0.7mm 0.02μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 40μm
N0.7 N0.7HD 0~0.7mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm 40μm
N0.7-90   0~0.7mm 0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 平面/5mm 10mm 5mm 40μm
N2.5 N2.5HD 0~2.5mm 0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm 10mm 40μm
N7   0~2.5mm 1μm ±(5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 15/25mm 23mm 20mm 40μm
FN1.5
FN1.5HD F:0~1.5mm
N:0~0.7mm
0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 1/7.5mm 14mm 5mm F:0.3mm
N:40μm
FN1.5-90   F:0~1.5mm
N:0~0.7mm
0.05μm ±(1μm±0.75%) ±(0.5μm±0.5%) 平面/5mm 10mm 5mm F:0.3mm
N:40μm
FN5 FN5HD F:0~5mm
N:0~2.5mm
0.1μm ±(1.5μm±0.75%) ±(0.8μm±0.5%) 1.5/10mm 14mm 10mm F:0.5mm
N:40μm